雷射检测

雷射检测【雷射检测】雷射检测技术套用十分广泛,如雷射干涉测长、雷射测距、雷射测振、雷射测速、雷射散斑测量、雷射準直、雷射全息、雷射扫描、雷射跟蹤、雷射光谱分析等都显示了雷射测量的巨大优越性 。雷射外差干涉是纳米测量的重要技术 。雷射测量是一种非接触式测量,不影响被测物体的运动,精度高、测量範围大、检测时间短,具有很高的空间解析度 。
基本介绍中文名:雷射检测技术
外文名:Laser detection technology
套用:雷射干涉测长、雷射测距等
原理:雷射测距原理、雷射测位移原理
特点:非接触式测量
优势:精度高、测量範围大、检测时间短
测距原理先由雷射二极体对準目标发射雷射脉冲 。经目标反射后雷射向各方向散射 。部分散射光返回到感测器接收器,被光学系统接收后成像到雪崩光电二极体上 。雪崩光电二极体是一种内部具有放大功能的光学感测器,因此它能检测极其微弱的光信号 。记录并处理从光脉冲发出到返回被接收所经历的时间,即可测定目标距离 。雷射感测器必须极其精确地测定传输时间,因为光速太快 。如,光速约为3X10^8m/s,要想使解析度达到1mm,则测距感测器的电子电路必须能分辨出以下极短的时间:0.001m(3X10^8m/s)=3ps要分辨出3ps的时间,这是对电子技术提出的过高要求,实现起来造价太高 。但是如今的雷射感测器巧妙地避开了这一障碍,利用一种简单的统计学原理,即平均法则实现了1mm的解析度,并且能保证回响速度 。远距离雷射测距仪在工作时向目标射出一束很细的雷射,由光电元件接收目标反射的雷射束,计时器测定雷射束从发射到接收的时间,计算出从观测者到目标的距离;LED白光测速仪成像在仪表内部积体电路晶片CCD上,CCD晶片性能稳定,工作寿命长,且基本不受工作环境和温度的影响 。因此,LED白光测速仪测量精度有保证,性能稳定可靠 。测位移原理雷射发射器通过镜头将可见红色雷射射向被测物体表面,经物体反射的雷射通过接收器镜头,被内部的CCD线性相机接收,根据不同的距离,CCD线性相机可以在不同的角度下“看见”这个光点 。根据这个角度及已知的雷射和相机之间的距离,数位讯号处理器就能计算出感测器和被测物体之间的距离 。同时,光束在接收元件的位置通过模拟和数字电路处理,并通过微处理器分析,计算出相应的输出值,并在用户设定的模拟量视窗内,按比例输出标準数据信号 。如果使用开关量输出,则在设定的视窗内导通,视窗之外截止 。另外,模拟量与开关量输出可独立设定检测视窗 。