沸点升高测定法

沸点升高测定法【沸点升高测定法】沸点升高法是当高分子溶液通过填充有特种多孔性填料的柱子时,溶液中高分子因其分子量的不同,而呈现不同大小的流体力学体积 。
沸点升高法是当高分子溶液通过填充有特种多孔性填料的柱子时,溶液中高分子因其分子量的不同,而呈现不同大小的流体力学体积 。柱子的填充料表面和内部存在着各种大小不同的孔洞和通道,当被检测的高分子溶液随着淋洗液引入柱子后,高分子溶质即向填料内部孔洞渗透,渗透的程度和高分子体积的大小有关 。大于填料孔洞直径的高分子只能穿行于填料的颗粒之间,因此将首先被淋洗液带出柱子,而其他分子体积小于填料孔洞的高分子,则可以在填料孔洞内滞留,分子体积越小,则在填料内可滞留的孔洞越多,因此被淋洗出来的时间越长 。按此原理,用相关凝胶渗透色谱仪,可以得到聚合物中分子量分布曲线 。配合不同组分高分子的质谱分析,可得到不同组分高分子的绝对分子量 。用已知分子量的高分子对上述分子量分布曲线进行分子量标定,可得到各组分的相对分子量 。由于不同高分子在溶剂中的溶解温度不同,有时需在较高温度下才能製成高分子溶液,这时GPC柱子需在较高温度下工作 。质谱法是精确测定物质分子量的一种方法,质谱测定的分子量给出的是分子质量m对电荷数Z之比,即质荷比(m/Z)过去的质谱难于测定高分子的分子量,但近20余年由于我的离子化技术的发展,使得质谱可用于测定分子量高达百万的高分子化合物 。这些新的离子化技术包括场解吸技术(FD),快离子或原子轰击技术(FIB或FAB),基质辅助雷射解吸技术(MALDI-TOFMS)和电喷雾离子化技术(ESI-MS) 。由雷射解吸电离技术和离子化飞行时间质谱相结合而构成的仪器称为“基质辅助雷射解吸-离子化飞行时间质谱”(MALDI-TOFMS雷射质谱)可测量分子量分布比较窄的高分子的重均分子量(Mw) 。由电喷雾电离技术和离子阱质谱相结合而构成的仪器称为“电喷雾离子阱质谱”(ESI-ITMS电喷雾质谱) 。可测量高分子的重均分子量(Mw) 。测定高分子分子量的其他方法还有:端基测定法,冰点降低法,膜渗透压法,蒸汽压渗透法,小角X-光散射法,小角中子散射法,超速离心沉降法等 。